Buat profil saya
Dikutip oleh
Semua | Sejak 2019 | |
---|---|---|
Kutipan | 5018 | 1398 |
indeks-h | 36 | 20 |
indeks-i10 | 124 | 37 |
Akses publik
Lihat semua26 artikel
8 artikel
tersedia
tidak tersedia
Berdasarkan pada mandat pendanaan
Pengarang bersama
- Kevin S. JonesProfessor, University of FloridaEmail yang diverifikasi di eng.ufl.edu
- Stephen PeartonProfessor of Materials Science and Engineering, University of FloridaEmail yang diverifikasi di mse.ufl.edu
- Erin PatrickInstructional Associate Professor, University of FloridaEmail yang diverifikasi di ece.ufl.edu
- Fan RenUniversity of Florida, Bell Lab, AT&TEmail yang diverifikasi di che.ufl.edu
- Ribhu SharmaUniversity of Florida; Infineon TechnologiesEmail yang diverifikasi di ufl.edu
- SOKRATES T. PANTELIDESProfessor of Physics, Vanderbilt UniversityEmail yang diverifikasi di vanderbilt.edu
- Tomas Diaz de la RubiaUniversity of OklahomaEmail yang diverifikasi di ou.edu
- Leonard RubinAxcelis TechnologiesEmail yang diverifikasi di alum.mit.edu
- Ron SchrimpfProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail yang diverifikasi di vanderbilt.edu
- blair tuttlePenn State Erie; The Behrend CollegeEmail yang diverifikasi di psu.edu
- Yaser M. HaddaraMcMaster UniversityEmail yang diverifikasi di mcmaster.ca
- Marko J. TadjerNaval Research LaboratoryEmail yang diverifikasi di nrl.navy.mil
- Daniel M. FleetwoodProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail yang diverifikasi di vanderbilt.edu
- Robert EllimanAustralian National UniversityEmail yang diverifikasi di anu.edu.au
- Lu LiuUniversity of Florida, Stanford UniversityEmail yang diverifikasi di stanford.edu
- Minghan XianMicron Technology; University of Florida; University of DelawareEmail yang diverifikasi di ufl.edu
- S. T. PicrauxLos Alamos National LaboratoryEmail yang diverifikasi di lanl.gov
- Eric ChasonBrown UniversityEmail yang diverifikasi di brown.edu
- Saurabh MorarkaEmail yang diverifikasi di intel.com
- Martin GilesIntel Corporation, RetiredEmail yang diverifikasi di ieee.org